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    X熒光光譜儀的優缺點

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       優點:
     
    a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
     
    b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
     
    c)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
     
    d)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
     
    e) 分析精密度高。
     
    f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
     
    缺點:
     
    a)難于作分析,故定量分析需要標樣。
     
    b)對輕元素的靈敏度要低一些。
     
    c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
     
    X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
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